ELECTRON MICROSCOPIC SPECIMEN, AND METHODS FOR PREPARING AND PERFORMING MICROSCOPIC EXAMINATION OF THE SAME

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

17/148,979

專利證號

US 11,227,742

專利獲證名稱

ELECTRON MICROSCOPIC SPECIMEN, AND METHODS FOR PREPARING AND PERFORMING MICROSCOPIC EXAMINATION OF THE SAME

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2022/01/18

技術說明

一種減輕電子顯微鏡於影像收集時產生積碳的方法

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219

網址