發明
中華民國
102137170
I 491844
3D形貌分析方法
國立虎尾科技大學
2015/07/11
本發明係為一種3D形貌分析方法,其包括:準備步驟、量測步驟、處理步驟 及形貌模擬步驟。本發明係先準備一2D表面粗度儀、一處理裝置及一待測試件; 利用該2D表面粗度儀以等間距且平行之複數量測路徑對一待測試件進行表面粗度 量測,得到複數組數據檔並輸出至該處理裝置,且每一數據檔係包括複數個具有 高度資料之數據點;接著,該處理裝置將複數組數據檔建構成一矩形陣列,並依 各數據點之高度資料而建構成曲面;最後,定義每一數據點之平面座標,經由一 輔助軟體之模擬切削後,得到該待測試件表面形貌之影像。 This invention relates to a 3-Dimensional surface profile analyzing method. It includes a preparing step, a measuring step, a processing step, and a profile simulation step. First, the user needs to prepare a 2-Dimensional surface roughness detector, a processing device, and an object to be detected. By using the 2-Dimensional surface roughness detector, several parallel and equally spaced detecting paths on the object are measured. Each path contains many detecting point’s data which includes the position and its height. Then, these detected data can be inputted in the processing device for establish a matrix so as to construct a mesh-like 3-D curved surface depending on all the heights. Finally, it can define each point’s 2-D coordinate information on a plane. By using a CAM software, it is possible to simulate the 3-D surface shape after it is machined.
本部(收文號1110033626)同意該校111年6月9日虎科大智財字第1113400059號號函申請終止維護專利(國立虎尾科技大學)
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