以直接電噴灑游離質譜法鑑別樣品成分的分析方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100115351

專利證號

I 442051

專利獲證名稱

以直接電噴灑游離質譜法鑑別樣品成分的分析方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2014/06/21

技術說明

本發明之目的，即在提供一種操作便利，用能快速更換樣品之以直接電噴灑游離質譜法鑑別樣品成分的分析方法。 本發明為一種以直接電噴灑游離質譜法鑑別樣品成分的分析方法，包含一準備步驟及一分析步驟。 該準備步驟是將一待測樣品裁切出一尖端，並固定於一設置有電極的載台上，使待測樣品與電極接觸，且尖端是朝向一質譜儀的入口。 該分析步驟是將萃取液滴於待測樣品及電極上，而由入口進入質譜儀中進行分析。藉此，不需要將待測樣品進行成分分析，且待測樣品的更換快速，能應用於大量樣品數之檢測。 This present invention provides a method adapted for direct electrospray ionization mass spectrometry for the characterization of sample components. The method includes a preparation step and an analyzing step. In the preparation step, a sample is cut into a pointy end facing towards the intake of the mass spectrometer. Accordingly, the invention can be used for samples without pre-treatment, as well as improve the efficiency of the mass spectrometry analysis.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址