多量測用途光點間距之次像素精度估測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094117732

專利證號

I261662

專利獲證名稱

多量測用途光點間距之次像素精度估測系統

專利所屬機關 (申請機關)

逢甲大學

獲證日期

2006/09/11

技術說明

光點

備註

本部(收文號1070041206)同意該校107年6月20逢產字第1070016142號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

(04)24517250-6811

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