發明
中華民國
100121804
I 455490
用於提供一傳收系統之表現資訊的評估裝置
義守大學
2014/10/01
本專利提出在結構上更簡明的傳送選擇分集與接收最大比率結合(TAS/MRC)架構之符元錯誤率(SER)表示式於獨立的Nakagami-m衰減通道,並與文獻中結果做比較。首先,當 為任意數時,我們推導出一個簡單函數無窮級數累加合成之符元錯誤率;而當 為整數時,符元錯誤率可獲得以兩個有限累加合成之閉合表示式。此外,於高訊雜比時,簡明的近似符元錯誤率表示式顯示出TAS/MRC架構可達到全分集階數。數值與模擬結果證實推導表示式的簡潔。 This patent presents structurally simpler symbol error rate (SER) expressions for Transmit Antenna Selection/Maximal-Ratio Combining (TAS/MRC) scheme in independent Nakagami-m fading channels in a comparison with those in the literature. First, the SER is derived as a single infinite series of simple functions for arbitrary m. For integer m, the SER can be attained as a closed-form expression with a double finite series. Moreover, simple asymptotic SER expressions suggest that the TAS/MRC scheme can achieve a full diversity order at high SNR. Numerical and simulation results verify the conciseness of the derived expressions.
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