一種量測皮膚基底細胞高度的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108147712

專利證號

I 784226

專利獲證名稱

一種量測皮膚基底細胞高度的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2022/11/21

技術說明

目前非侵入式的顯微鏡系統，像是反射式共聚焦顯微鏡(RCM)、雙光子激發熒光顯微鏡(TPEF)、倍頻顯微鏡(HGM)、及光學同條斷層影像術等均已應用於臨床之皮膚疾病診斷與治療追蹤，其中關於基底細胞之相關影像分析，對於眾多皮膚疾病相當關鍵。 本技術在提出一種精準的分析基底細胞高度的方法。本技術不會因為選取不同深度的影像而得到不一樣的結果，因此結果較其他已揭露方法為真實且準確。 The invention is an accurate method to analyze the height of basal cells.It won't get different results due to images of different depth, so the result is more accurate and realistic.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址