一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098114922

專利證號

I 388030

專利獲證名稱

一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2013/03/01

技術說明

一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置，係由多光源、一感測單元、以及一取放機構所構成；讓感測單元隨著取放機構移動；光源安置於取放機構之相關軸位置，當光源光束由光源射出，並射入感測單元之分光鏡，產生的分光束入射取放機構上的感測單元光源之第一感測器與第二感測器時，則使二組感測器能檢測到取放機構在該相關軸之誤差；據此，將上述所量測到的處理訊號利用快速傅利葉轉換計算，即可能得到取放機構之頻率分析。

備註

本部(收文號1050001826)同意該校105年1月6日虎科大智財字第10534000010號函申請終止維護專利

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