具漏電流校正之鎖相迴路Phase Locked Loop with Leakage Current Calibration

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/323,081

專利證號

US 7,786,810 B2

專利獲證名稱

具漏電流校正之鎖相迴路Phase Locked Loop with Leakage Current Calibration

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2010/08/31

技術說明

我們提出一種具漏電流校正之鎖相迴路，此具漏電流校正之鎖相迴路基於一般的鎖相迴路，其包含一相位頻率偵測器、一電荷幫浦、一濾波器、一壓控振盪器及一除頻器。特別地，本發明所提出的濾波器為一種一具有一補償電壓端點之濾波器。當該濾波器所使用的MOS電容的閘極氧化層存有漏電流現象時，藉由本發明所提出的多種漏電流校正電路對該濾波器內的該補償電壓端點進行漏電流補償，可解決習知鎖相迴路因漏電流產生的抖動而發生脫鎖的問題。

備註

本部(收文號1090002409)同意該校109年1月7日校研發字第1090000702號函申請終止維護專利(臺大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

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