以電路內部事件作為觸發條件之除錯控制系統及其方法Debug control system and method by use of inside-core events served as trigger condition

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101133159

專利證號

I 472912

專利獲證名稱

以電路內部事件作為觸發條件之除錯控制系統及其方法Debug control system and method by use of inside-core events served as trigger condition

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2015/02/11

技術說明

本發明包含一個除錯系統和一個除錯方法。除錯系統中含有一個或多個待除錯電路、一個除錯控制電路和一個圖形化介面硬體除錯工具。除錯方法為在一個搜尋區間內使用待除錯電路內部掃描鍊中任何的正反器訊號作為觸發事件，並可以使用任何的布林邏輯、事件發生順序和事件發生次數的資訊來組合多項觸發事件成為觸發條件。根據觸發條件和搜尋區間，除錯控制電路會凍結正在運作的待除錯電路進行除錯，並比對待除錯電路內部的狀態是否符合觸發條件，若符合觸發條件則將待除錯電路內部的狀態藉由傳輸介面傳出到圖形化介面硬體除錯工具以觀察之，反之則恢復待除錯電路的運作。圖形化介面硬體除錯工具可以讓使用者設定觸發條件，觀察電路內部狀態和操控除錯控制電路。 This invention comprises a debug system and a debug method. The debug system comprises one or more circuits under debug, a debug control circuit, and a graphical user interface hardware debug tool. This invention uses multiple D flip-flops signals inside scan chains of circuit under debug as an event trigger condition to start a debugging control in a search range. This invention can use any Boolean logic, event sequencing and event counting information to combine several event trigger signals into an event trigger condition. According to the trigger condition and the search range, the debug control circuit controls the debug procedure for the circuit under debug. The debug control circuit can stop the operative circuit under debug and check whether the scan data matches the trigger condition.

備註

本部(收文號1100027013)同意該校110年5月12日成大產創字第1101101269號號函申請終止維護專利(成大)

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