量測發光二極體光譜的系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100134322

專利證號

I 422805

專利獲證名稱

量測發光二極體光譜的系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2014/01/11

技術說明

一種量測發光二極體光譜系統，用以量測發光二極體的光譜，該系統包括濾光器陣列、感測器陣列以及資料處理單元，其中濾光器陣列接收來自發光二極體的發射光線，經濾光處理後的光線傳送至感測器陣列，由感測器陣列產生電氣感測信號，資料處理單元接收電氣感測信號，並利用複數個均勻分佈或非均勻分佈之函數為基底函數以進行轉換處理，產生具最佳匹配的合成函數以代表發光二極體之發射光線的光譜。本系統可以整合性單晶片實現，具有小型化、穩固以及易於攜帶且方便使用的特點。 A system for light-emitting diode (LED) spectrum measurement comprises an optical filter array, a sensor array, and a data processing unit, wherein the optical filter array receives an irradiated light ray from the LED, the light ray is transmitted to the sensor array after a light filtration process, the sensor array generates an electrical sensing signal, the data processing unit receives the electrical sensing signal, and uses a plurality of evenly distributed or unevenly distributed functions as basis functions to conduct transformation process, generates a synthetic function with an optimal match to represent a spectrum of the irradiated light ray of the LED. The system of the present invention may be realized as an integrated system on-a-chip, and has the properties of miniaturization, stability, easy to carry and convenient to use.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址