一種平面顯示器Ｍｕｒａ瑕疵檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095140656

專利證號

I 324326

專利獲證名稱

一種平面顯示器Ｍｕｒａ瑕疵檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2010/05/01

技術說明

一種平面顯示器Mura瑕疵檢測方法: 由於LCD面板上存在著 非均一性的亮度變化，且瑕疵與背景間的亮度差異很小，因 此造成Mura瑕疵檢測上的困難。本發明提出利用離散餘弦轉 換(Discrete Cosine Transform, DCT)，從DCT係數之反轉 換，能有效地淬取出背景資訊，重新建構出不具瑕疵之原始 背景影像，解決TFT-LCD影像非均一性之檢測問題。 一種平面顯示器Mura瑕疵檢測方法: 由於LCD面板上存在著 非均一性的亮度變化，且瑕疵與背景間的亮度差異很小，因 此造成Mura瑕疵檢測上的困難。本發明提出利用離散餘弦轉 換(Discrete Cosine Transform, DCT)，從DCT係數之反轉 換，能有效地淬取出背景資訊，重新建構出不具瑕疵之原始 背景影像，解決TFT-LCD影像非均一性之檢測問題。 The developed technique relates to a non-uniform image defect inspection method, especially to a non-uniform image defect inspection method that can segment non-uniform image defects from the inspected image by way of reconstructing an original background image without defects by Discrete Cosine Transform (DCT) and selecting an appropriate threshold.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址