不可見光粒子檢測裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100115017

專利證號

I 443362

專利獲證名稱

不可見光粒子檢測裝置

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2014/07/01

技術說明

一種可將游離輻射透過轉換介質變成可見光之可分離式組件，此組件有一吸附裝置能吸附在行動裝置上之影像感測器週邊，行動裝置內之鏡頭與影像感測器接收轉換介質晶體產出之光子，生成一光子數位影像，行動裝置內之可植入有一輻射等效劑量量測演算方法，可由此影像中之像素亮度，分析所接收到特定游離輻射之等效劑量。

備註

本部(收文號：第1080062138號)同意該院108年9月16日國研授儀服院字第1080901656號函通報專利終止維護。

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址