以交連線與佈局為導向之多重掃描樹以降低測試時間與資料量以及繞線最佳化之測試合成方法以及其裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097102724

專利證號

I 366767

專利獲證名稱

以交連線與佈局為導向之多重掃描樹以降低測試時間與資料量以及繞線最佳化之測試合成方法以及其裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2012/06/21

技術說明

本案提出的演算法可以有效的考量測試的壓縮率和繞線的長度。與先前的scan tree synthesis比較，我們所提出的方法可以減少1.29倍到3.16倍的繞線長度，並且可以降低1.43倍到2.07倍的測試資料量。提出的方法中，有一個density-driven dynamic clustering演算法主要是應用於找出scan tree中的scan cells群聚的集合。另外，compatibility based clique partition演算法也被使用來決定掃瞄樹結構的topology

備註

本部(收文號1040021383)同意該校104年3月27日中產營字第1040001121號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

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