石墨烯薄膜層數檢測系統及檢測方法SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING NUMBER OF LAYERS OF A FEW-LAYER GRAPHENE

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

13/923,587

專利證號

US 9,234,798 B2

專利獲證名稱

石墨烯薄膜層數檢測系統及檢測方法SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING NUMBER OF LAYERS OF A FEW-LAYER GRAPHENE

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2016/01/12

技術說明

本發明係關於一種應用於石墨烯薄膜層數檢測的影像分析系統及方法；其系統包括一觀察模組、一取像模組以及一多頻譜色彩影像再現模組；其方法係包括一石墨烯薄膜頻譜資料庫的建立流程以及一多頻譜色彩再現影像之石墨烯薄膜層數檢測流程，前者包括一頻譜分析步驟、一主軸成份分析步驟及一資料庫建立步驟，後者包括一擷取影像步驟、一頻譜分析步驟、一石墨烯薄膜層數分類步驟、一色彩增益步驟、一色彩影像再現步驟以及一石墨烯薄膜層數檢測步驟；藉此能夠以簡便的設備快速地檢測石墨烯薄膜的層數狀態。 The present invention relates to a system employing image analysis for detecting the number of graphene layers and having an acquisition image module, an image enlarged module and a multispectral color image reproduction module. An aspect of the present invention relates to a method having a procedure for constructing a database to store information of graphene layers spectra and a procedure for detecting graphene layers with multi-spectral color reproduction image.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉授權中心

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