基於低速取樣技術之高速數位類比轉換器測試方法Method for testing a high-speed digital to analog converter based on an undersampling technique

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

12/727,522

專利證號

US 8,049,650 B2

專利獲證名稱

基於低速取樣技術之高速數位類比轉換器測試方法Method for testing a high-speed digital to analog converter based on an undersampling technique

專利所屬機關 (申請機關)

國立雲林科技大學

獲證日期

2011/09/22

技術說明

本文提出一個新型測試數位類比轉換器的方法，且此測試方法可運作於低速取樣之環境。本文提出之低速取樣技術乃是將待測之數位類比轉換器與載波產生器輸出訊號進行脈波寬度調變，並將調變後之訊號經數位運算電路，形成一低速運作之等效類比數位轉換器。另外，藉由載波產生器提供均勻隨機分佈的測試圖樣于等效類比數位轉器，本文提出之方法亦可同時校正載波產生器。本文提出之架構不僅可讓待測電路以全速方式運作，並且校正因載波產生器非理想性所造成之測試誤差。實驗的結果驗證了此方法的可行性且具精準之測試解析度。發展此低速之測試方法，運用於內建自我測試設計時，將可減少後端配合之自動測試設備所需的硬體規格。 In this work, we propose a novel test scheme for digital-to-analog converter (DAC) based on under-sampling technique. Under-sampling technique modulated pulse width of output signal of DAC under test and carrier. Through the digital processing circuits, the modulated signal establishes a low speed equivalent ADC. Moreover, carrier generator provides uniform random pattern to equivalent ADC. The method also can calibrate pattern generator. This architecture not only performed at-speed testing but also calibrated the testing errors caused by non-ideal carrier. The result shows that the methodology is feasible and quite accurate. This low speed test methodology can reduce the required performances of Automatic Test Equipment (ATE) when performing the BIST schemes.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財管理組

連絡電話

(05)5342601轉2521

網址