光學探針裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108148437

專利證號

I 730571

專利獲證名稱

光學探針裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2021/06/11

技術說明

一種光學探針裝置，用以端面耦光積體光學元件之光訊號。光學探針裝置包含一探針卡、複數探針頭以及複數極化選擇器。探針頭設置於探針卡之一端，探針頭包含一極化區分器及二波導，二波導連接極化區分器，且穿設於探針卡，其中，各探針頭之一波導用以傳輸垂直極化光，另一波導用以傳輸水平極化光。複數極化選擇器設置於探針卡，且各極化選擇器分別連接於各探針頭之一波導。其中，各極化選擇器控制光訊號之極化方向。藉此，利用光學探針裝置可由端面耦光積體光學元件，且有較高的耦光效率，並可分析積體光學元件中常見到極化相依的問題。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219

網址