光熱偏折熱量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

106125647

專利證號

I 633307

專利獲證名稱

光熱偏折熱量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

中原大學

獲證日期

2018/08/21

技術說明

(1)中文 本發明提供一種光熱偏折熱量測系統，包括有一基材、一偵測光源、一偵測單元以及一運算單元。該基材，其係具有複數個定位結構，用以承載一細胞，該細胞散發一熱場。該偵測光源，用以產生一偵測光投射至該熱場之一位置，該偵測光通過該熱場產生一偏折量。該偵測單元，用以接收通過該位置之該偵測光，以產生對應該偏折量之處理訊號。該運算單元，根據該處理訊號而解析出該偏折量，並根據該偏折量，決定該位置之一熱量值。 (2)英文 The present invention provides a photothermal deflection measuring system comprising a substrate, a detecting light source, a detecting unit, and a operation unit. The substrate comprises a plurality of position structures, on each of which a cell dissipating heat outside a surface thereof is supported. The detecting light source is utilized to project a detecting light passing through a specific position outside the surface whereby the detecting light is deflected due to a temperature gradient caused by the dissipated heat. The detecting unit arranged at a side of the cell for receiving the deflected detecting light thereby generating a detecting signal corresponding to the deflection. The operation unit is configured to received the detecting signal, analyze a deflection valued corresponding to the deflected light, and determine a heat value corresponding to the specific position out side the surface of the cell.

備註

本部(收文號1100014582)同意該校110年3月11日原產字第1100000719號函申請終止維護專利(中原)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作暨專利技轉中心

連絡電話

(03)2651830

網址