適用於瞬時形貌量測二維編碼條紋投影的方法/METHOD OF TWO-DIMENSIONAL FRINGE-ENCODED PATTERN PROJECTION FOR INSTANTANEOUS PROFILE MEASUREMENTS

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108129268

專利證號

I 719588

專利獲證名稱

適用於瞬時形貌量測二維編碼條紋投影的方法/METHOD OF TWO-DIMENSIONAL FRINGE-ENCODED PATTERN PROJECTION FOR INSTANTANEOUS PROFILE MEASUREMENTS

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2021/02/21

技術說明

一種適用於瞬時形貌量測二維編碼條紋投影的方法，該方法包括一投影步驟、一取像步驟、一轉換步驟及一展開步驟。利用二維條紋編碼圖案配合傅立葉轉換的方式，即使表面顏色或反射率隨位置快速變化，二維條紋編碼圖案也能很好地區分條紋順序。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址