發明
美國
11/152,472
7,302,655B2
電路設計之驗證方法
國立清華大學
2007/11/27
本發明係關於一種電路設計之驗證方法,其特徵在於根據一預定函數分派數值至該電路設計之 輸入埠。此外,本發明之驗證方法更包含根據分派給輸入埠之數值,計算電路設計之輸出埠的 輸出值,且計算該輸出值係在布林邏輯閘之層次,自輸入埠向輸出埠以逐步方式進行。 本發明係關於一種電路設計之驗證方法,其特徵在於根據一預定函數分派數值至該電路設計之 輸入埠。此外,本發明之驗證方法更包含根據分派給輸入埠之數值,計算電路設計之輸出埠的 輸出值,且計算該輸出值係在布林邏輯閘之層次,自輸入埠向輸出埠以逐步方式進行。 本發明係關於一種電路設計之驗證方法,其特徵在於根據一預定函數分派數值至該電路設計之 輸入埠。此外,本發明之驗證方法更包含根據分派給輸入埠之數值,計算電路設計之輸出埠的 輸出值,且計算該輸出值係在布林邏輯閘之層次,自輸入埠向輸出埠以逐步方式進行。
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