利用菲涅爾域中單一強度擷取純相位物體之相位的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097124348

專利證號

I 374291

專利獲證名稱

利用菲涅爾域中單一強度擷取純相位物體之相位的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中興大學

獲證日期

2012/10/11

技術說明

一種利用菲涅爾域中單一強度擷取純相位物體之相位的方法，包含以下步驟：利用折射率匹配且互補的一純相位物體及一互補純相位物體，在一輸入平面上產生一具有對稱共軛特性的信號；使一入射光經由該輸入平面傳遞到一與該輸入平面存在菲涅爾轉換關係的輸出平面上；利用該輸出平面上的強度、離散菲涅爾轉換及該對稱共軛特性，計算該信號的相關特性的乘積項；及利用該相關特性的乘積項，計算該信號，以獲得該純相位物體的相位。此方法簡單、直接且效率高。

備註

本部(收文號1060063873)同意該校106年8月10日興產字1064300420號函申請終止維護專利

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