位元錯誤率的分析方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097136070

專利證號

I 389498

專利獲證名稱

位元錯誤率的分析方法

專利所屬機關 (申請機關)

義守大學

獲證日期

2013/03/11

技術說明

在本發明中，我們推導出可涵蓋通用衰減環境的Nakagami-m通道中，QAM調變系統精確位元錯誤率理論表示式，並以蒙地卡羅模擬來驗證理論推導的正確性。從分析結果中，發現QAM調變系統經由Nakagami-m衰減通道環境下，其精確位元錯誤率性能與調變係數大小、衰減通道系數m以及平均SNR/Bit（ ）等參數有關。分析推導結果有助於任意Nakagami-m衰減通道之影響下，特定性能為系統設計的準則時，評估所能採用QAM調變之種類。

備註

本部(收文號1050032965)同意該校105年5月13日義大產字第1050006537號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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