影像分析之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

110119451

專利證號

I 780735

專利獲證名稱

影像分析之方法

專利所屬機關 (申請機關)

長庚大學

獲證日期

2022/10/11

技術說明

本發明之目的，在於提供一種影像分析之方法，其係透過第一影像擷取裝置拍攝待測物之影像，並且利用電子裝置內之應用程式分析影像內待測物之位置及角度，特別進行待測物與軸線之角度分析，在獲得待測物之參數，降低分析成本以及減少分析所花費之時間。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉中心

連絡電話

03-2118800轉3201

網址