積體電路電壓源雜訊偵測器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095142672

專利證號

I 308960

專利獲證名稱

積體電路電壓源雜訊偵測器

專利所屬機關 (申請機關)

長庚大學

獲證日期

2009/04/21

技術說明

一種積體電路電壓源雜訊偵測器，係針對習用的峰值偵測器加以改良後，並加入源極隨耦器 作適當位準轉移，使之成為積體電路電壓源雜訊偵測器，該偵測器應用在偵測電壓源雜訊 上，特色是可在某時段內，將最大的雜訊值偵測出，並將其電位大小保持住，以便於下一級 電路處理，使得下一級電路對工作速度的要求限制變低，並藉由模擬結果證實，本發明可在 10%~45% VDD大小雜訊範圍內，偵測到1GHz雜訊。

備註

本部(收文號1060013638)同意該校106年2月23日長庚大字第1060020321號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉中心

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