元件影像檢測方法及其系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101105537

專利證號

I 502549

專利獲證名稱

元件影像檢測方法及其系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立高雄應用科技大學

獲證日期

2015/10/01

技術說明

本發明係關於一種元件影像檢測﹝electronic component image recognition﹞方法及其系統；特別是關於一種採用奇異值分解﹝Singular Value Decomposition，SVD﹞進行電子元件﹝electronic component﹞影像檢測方法及其系統。元件影像檢測方法包含：輸入一元件影像；利用一奇異值分解法應用於該元件影像；及利用該分解元件影像進行影像檢測。本發明另一較佳實施例以一光線補償法計算至少一光線補償係數；利用該光線補償係數進行光線補償處理該元件影像，以獲得一光線補償元件影像；利用該光線補償元件影像進行影像檢測。 A recognition method for component images includes: inputting a component image; utilizing SVD (singular value decomposition) to decompose the component image; and utilizing the decomposed component image for image recognition. In an embodiment, the recognition method further includes: utilizing a light compensation method to calculate at least one light compensation coefficient; utilizing the light compensation coefficient to process the component image to obtain a light-compensated component image; utilizing the light-compensated component image for image recognition.

備註

本部(發文號1080012304)同意貴校108年2月21日高科大研字第1082800134號函申請終止維護專利。

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術服務組

連絡電話

(07)3814526-12721