一種可用於電子顯微鏡樣品裝置之構造及製作技術Specimen Kit and Fabricating Method Thereof

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/952,148

專利證號

US 7,807,979 B2

專利獲證名稱

一種可用於電子顯微鏡樣品裝置之構造及製作技術Specimen Kit and Fabricating Method Thereof

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2010/10/05

技術說明

此電子顯微鏡樣品裝置由兩基底及兩薄膜所組成，薄膜配置於基底上，將基底形成孔洞並留下 薄膜，放置墊襯物於兩薄膜間且形成可隔絕真空環境的空間，樣品則置入此空間內，然而薄膜 材料可允許電子束穿遂，進而對樣品做觀察。

備註

本部(收文號1100063323)同意該校110年10月19日清智財字第1109006858號函申請終止維護專利(清大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219

網址