發明
美國
12/971,998
US 8,809,808 B2
光學偵測系統STIMULATED EMISSION-BASED OPTICAL DETECTION SYSTEM
國立陽明大學
2014/08/19
本發明之設計係應用受激放射以達成遠距弱光訊號測量技術。其具體實施方式如下述,利用第一道波長短的雷射光(稱激發雷射)將樣品激發至受激態,隨後,再以第二道雷射光束(受激放射光束)作用於處於受激態的螢光分子上,促使其產生受激發射,以產生與第二道入射光(受激雷射)同調之光子。在測量上,直接測量第二道雷射在產生受激發射後強度增加的訊號非常困難,所以實務上我們利用鎖相放大器來測量受激雷射光束強度之變化。先將第一道光束以頻率f做強度調變(intensity modulation)後激發樣品,再利用鎖相放大器將第二道雷射光的強度以頻率f解調(demodulation)並測量解調訊號,此解調後的訊號即與螢光分子受激發射量成正比。因受激發射具有高同調性,因此可於遠端進行偵測,而不必受收集光學元件之數值孔徑與工作距離限制。 The invention relates to a stimulated emission based optical detection system, and more specifically, to the optical detection system used for long-distance signal detection.
本部(收文號1090021029)同意該校109年4月8日陽研字第1090006632號函申請終止維護專利(陽明大)
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