自動對焦之光纖式光學同調斷層掃描之方法及裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094130447

專利證號

I 279606

專利獲證名稱

自動對焦之光纖式光學同調斷層掃描之方法及裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2007/04/21

技術說明

本發明係為一種自動對焦之光纖式光學同調斷層掃描之方法及裝置，其係在於採用新的光纖式同調段斷層掃描術架構，利用多一道 參考光束之設計，使得同調斷層掃描術不再需要昂貴之精密移動平台，大大降低成本。尤其結合一般市售DVD光學讀取頭之自動進行 對焦功能，本發明即可針對待測物體量測期間震動或移動可即時自動對焦，克服已往因此原因無法量測或誤差過大等問題。在生物 醫學方面，更可直接應用於活體量測，對於同調斷層掃描術應用於臨床使用上相當具潛力。

備註

本部(收文號1030032705)同意該校103年5月7日1034500281號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

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