積層表面品質預測方法及其電腦程式產品

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

110124456

專利證號

I 790668

專利獲證名稱

積層表面品質預測方法及其電腦程式產品

專利所屬機關 (申請機關)

國立高雄科技大學

獲證日期

2023/01/21

技術說明

一種積層表面品質預測方法，包含：獲得積層製造機台分別形成工件產品上依序堆疊層狀結構時所獲得或使用的加工資料。接著，輸入工件產品之加工資料至第一預測模型，以預測出一組融池尺寸預測資料。接著，輸入對應至工件產品之加工資料至第二預測模型，以預測出融池亮度預測資料。然後，進行預測操作，以輸入加工資料、融池尺寸預測資料以及融池亮度預測資料至品質預測模型，而預測出工件產品之品質狀態。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

連絡電話

網址