量測物體形貌的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108137742

專利證號

I 729534

專利獲證名稱

量測物體形貌的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2021/06/01

技術說明

一種量測物體形貌的方法，包含提供一二維條紋編碼圖案；投影該二維條紋編碼圖案至一待測物體；利用一影像擷取裝置擷取該二維條紋編碼圖案在該待測物體上的反射影像；以及利用一影像處理器分析該影像資料，以辨識該待測物體的形貌。該二維條紋編碼圖案包含：多個條紋，所述條紋包含多個亮紋與多個暗紋，其中所述亮紋與暗紋彼此平行並沿著一X軸方向交替排列；其中每一條紋在一Y軸方向上具有一脈衝式的灰階變化，該Y軸方向垂直於該X軸方向；該脈衝式的灰階變化具有一特定週期；其中至少有兩個以上的條紋，其脈衝式灰階變化的週期不同。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址