多重介面之半導體元件的分析方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107101608

專利證號

I 649959

專利獲證名稱

多重介面之半導體元件的分析方法

專利所屬機關 (申請機關)

東海大學

獲證日期

2019/02/01

技術說明

本申請案係利用電模數頻譜術分析具多重半導體介面之電子元件，可以分析得到各別介面的電阻、電容、電感值，是以往習用之阻抗頻譜術不能獲得之結果。將可應用到多種半導體電子元件之特性檢測，太陽能電池、發光二極體等元件，有助於這些產業在製造時分析產品缺陷所以，進行製程參數調整之重要依據。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研發處

連絡電話

04-23594711

網址