非接觸式鏡片曲率半徑與厚度檢測裝置及其檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

106119593

專利證號

I 638133

專利獲證名稱

非接觸式鏡片曲率半徑與厚度檢測裝置及其檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2018/10/11

技術說明

本發明是一種非接觸式鏡片曲率半徑與厚度檢測裝置及其檢測方法，本發明之裝置係以非接觸式探頭整合馬達、光學尺及電控模組，可達成鏡片曲率半徑與厚度之檢測。本發明採用像散法對焦，可快速及精準之對焦。厚度檢測可藉由此裝置透過公式演算並使用校正片方式克服球面像差問題，且以單探頭即可檢測。針對厚度較厚之鏡片，此裝置亦可延伸使用雙探頭，由鏡片上下兩面作檢測。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址