高解析度高頻之影像處理晶片的驗證系統ERROR CHECKING SYSTEM FOR HIGH RESOLUTION AND HIGH FREQUENCY IMAGE PROCESSING CHIP

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100106809

專利證號

I 418816

專利獲證名稱

高解析度高頻之影像處理晶片的驗證系統ERROR CHECKING SYSTEM FOR HIGH RESOLUTION AND HIGH FREQUENCY IMAGE PROCESSING CHIP

專利所屬機關 (申請機關)

國立中興大學

獲證日期

2013/12/11

技術說明

一種高解析度高頻之影像處理晶片的驗證系統， 其包含一控制運算模組以及分別與該控制運算模組電性連接之一輸入平台以及一檢測比較模組， 該輸入平台輸入一測試影像訊號予安裝於該輸入平台之一待測晶片， 讀取該待測晶片之一反應輸出訊號並將其多工分散輸出至該檢測比較模組； 該檢測比較模組將該反應輸出訊號分散儲存於複數個記憶體中並與一正確反應訊號進行比較； 本發明利用平行分工分散指派之方式以及分散儲存至複數個記憶體之方式， 解決數據資料龐大、頻寬不足、成本過高等問題， 且可以達到即時、快速檢測之技術功效。 The present invention is an Error Checking System for High resolution and high frequency image processing chip, which comprises a control module, an input panel and a comparing test module. A chip is connected to the input panel and the input panel inputs a test signal to the chip. The control module reads a response signal from the chip and the input panel, separates the response signal into multiple memories, and compares the separated response signal independently.

備註

本部(收文號1110019123)同意該校111年4月1日興產字第1114300232號函申請終止維護專利(國立中興大學)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

04-22851811

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