多平面掃描洩漏波天線

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098144536

專利證號

I 423523

專利獲證名稱

多平面掃描洩漏波天線

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2014/01/11

技術說明

一種多平面掃描洩漏波天線，包括基板、第一天線串列、第二天線串列與多個控制單元。第一天線串列與第二天線串列相互交叉設置，以共用多個天線單元中的一預設天線單元。部分天線單元從預設天線單元的一第一與一第二傳輸線向外串接而形成第一天線串列，其餘的天線單元從預設天線單元的一第三與一第四傳輸線向外串接而形成第二天線串列。控制單元用以控制第一至第四傳輸線與這些天線單元之間的傳輸路徑，並致使洩漏波束切換至不同的掃描平面，且洩漏波束透過這些天線單元而隨著頻率的變化來進行掃描。 A leaky-wave antenna capable of multi-plane scanning is provided. The leaky-wave antenna includes a substrate, a first antenna series, a second antenna series and a plurality of control units. The first antenna series intersect the second antenna series to share a predetermined antenna unit among many antenna units. A part of the antenna units are connected in series from a first and a second transmission lines of the predetermined antenna unit to compose the first antenna series, and the other antenna units are connected in series from a third and a fourth transmission lines of the predetermined antenna unit to compose the second antenna series. The control units control the transmission paths between the first to the fourth transmission lines and the antenna units, and switch a leaky beam to different scanning plane, wherein the leaky beam scans with the frequency by the control units.

備註

本部(收文號1080035227)同意該校108年6月4日交大研產學字第1081004865號函申請終止維護專利。

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

連絡電話

03-5738251

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