相位檢測之電光調變表面電漿共振以檢測待測物之方法及其裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

096101506

專利證號

I 324253

專利獲證名稱

相位檢測之電光調變表面電漿共振以檢測待測物之方法及其裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2010/05/01

技術說明

本發明提出一應用相位偵測之電光調變表面電漿共振技術以 檢測待測物之方法及其裝置，其係藉由外加電壓於使用電光 晶體製作而成的感測元件上，經由電光效應改變入射光的波 向量，然後量測輸出光的相位隨外加電壓變化的關係，利用 此關係的回歸直線斜率值與溶液濃度或材料性質相依的特 性，可用以檢測溶液濃度與材料性質；本發明所提出的相位 偵測之電光調變表面電漿共振的方法可應用於衰減全反射、 光波導的表面電漿共

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址