一種多離子感測電極陣列試片及其感測裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107103836

專利證號

I 695166

專利獲證名稱

一種多離子感測電極陣列試片及其感測裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2020/06/01

技術說明

本研究成功開發出準確度高、穩定性佳且符合價格低廉之多離子感測電極陣列試片與方法，其中包含多離子感測試片、硬體整合系統、夾具及 APP。多離子感測試片之電極可使用網印或半導體製程製作，單一試片包含多離子選擇電極試片與固態參考電極，試片可再微小化。硬體部分包含微處理器與多工器，並內建一個藍芽傳輸模組與智慧型裝置之 APP 連接。APP 可執行校正與量測兩功能，使用者利用 APP 介面的簡易操作即可完成多離子同步的校正與量測。多離子量測可在數分鐘內完成，也經過實場測試證實可行性。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址