具可動式光源之元件檢測機構

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094118245

專利證號

I254471

專利獲證名稱

具可動式光源之元件檢測機構

專利所屬機關 (申請機關)

國立屏東科技大學

獲證日期

2006/05/01

技術說明

一種具可動式光源之元件檢測機構，其包含檢測平台、固定軌、可動式光源模組及影像擷取單 元，該輸送軌道用以輸送待測待測元件至該轉盤，該轉盤凹設數個承載槽孔用以承載待測元 件，該驅動系統可驅動該轉盤進行間歇旋轉。該可動式光源模組設一內部空間，且該內部空間 環設一環形光源，該可動式光源模組經由伊可滑動的設置於該固定軌。影像擷取單元架設於該 固定軌上。該可動式光源模組可相對於該檢驗平台進行垂直縱向往復式移動，以提供一可動光 源供進行待測元件之影像檢測。

備註

本部(發文號1110000392)同意貴校110年8月10日屏科大建字第1101300262號函申請終止維護專利。(屏科大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展處

連絡電話

08-7703202轉6281

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