一種利用點雲判斷岩石不連續面位態的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107120439

專利證號

I 718380

專利獲證名稱

一種利用點雲判斷岩石不連續面位態的方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2021/02/11

技術說明

本發明係關於一種岩石不連續面位態判釋結果的檢定技術，尤其適用於透過三維雷射掃瞄以及攝影測量等方法取得描繪岩石露頭幾何之精細三維坐標值－點雲，判釋岩石不連續面組位態所需的參數選定以及結果檢核。不連續面影響岩體工程行為，為工程地質調查的重要項目。不連續面的空間姿態以位態稱之。位態相近的不連續面通常係在相似的地質環境及大地應力狀態下生成，具有類似的工程特性。國際岩石力學學會建議將位態相近的不連續面畫分為同一組，做為不連續面調查及評估的依據。不連續面位態常以平面的走向及傾角，或是傾向及傾角表示；通常以人力手持地質羅盤測量岩石露頭不連續面的位態，透過半球(立體)投影分析觀察代表不連續面位態在赤道投影平面上的極點空間分佈特性，依據極點集中程度區分場址岩石不連續面的組數，再依據費雪分佈的特性判讀各組不連續面集中程度最高的位態，做為不連續面組的代表位態。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址