發明
中華民國
107107783
I 658144
強化工件表面之系統與方法
國立臺北科技大學
2019/05/01
當待檢物體表面為高鏡面反射曲面,表面容易受外界光源干擾,在待檢物體表面產生一條高反射區域,高反射區域會覆蓋缺陷與誤判。本發明提出一應用於瑕疵檢測系統之光源裝置。由於高爾夫球桿其為電鍍表面,曲面具高鏡面反射特性。因此本光源能夠避免外界光源在高爾夫球桿上產生高反光區域,防止高反光區域覆蓋缺陷。而該光源系統為同軸光源與遮光片所組成。也可改變光源系統中遮光片大小與形狀,使光源經過不同種類遮光片以應用於不同檢測物體。 A light source design for the high curvature and reflective specimen is proposed in this invention. This light source could be applied in the field of defect inspection and avoid the influence of the reflective shadow induced by high curvature and the reflective surface of the specimen. This light source is composed of different coaxial lights and slit filters to be applied for the different specimen inspection task.
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