量測雷射模組中光纖套管之位置之方法及裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/340,587

專利證號

US 7,292,353 B2

專利獲證名稱

量測雷射模組中光纖套管之位置之方法及裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2007/11/06

技術說明

量測雷射模組中光纖套管之位置之方法及裝置 Method and Apparatur For Measureing the Position of Ferrule of a Laser Module

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址