光滑表面之大面積鏡面反射率之測量裝置及其方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109142377

專利證號

I 749930

專利獲證名稱

光滑表面之大面積鏡面反射率之測量裝置及其方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2021/12/11

技術說明

一種光滑表面之大面積鏡面反射率之測量裝置及其方法，所提光滑表面之大面積鏡面反射率之測量裝置，係包括一平面均勻之照明元件、至少一組以上之取像設備、一反射鏡、以及一電腦運算單元所構成。當運用時，所提光滑表面之大面積鏡面反射率之測量方法，係透過二次反射之方式取得之影像與直接反射區域（即一次反射）之影像比對，以得到大面積的反射率。　

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址