檢測樹狀聚合物純度之方法METHOD OF EXAMINING PURITY OF DENDRIMERS

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

14/723,790

專利證號

US 9,470,625 B1

專利獲證名稱

檢測樹狀聚合物純度之方法METHOD OF EXAMINING PURITY OF DENDRIMERS

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2016/10/18

技術說明

目前常見用來檢測樹狀聚合物的分析工具包括基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀 (Matrix assisted laser desorption ionization time of flight mass spectrometry, MALDI-TOF MS) 與核磁共振儀 (Nuclear magnetic resonance, NMR)，但使用此兩種方法檢測樹狀聚合物除了儀器本身較為昂貴之外，亦各具有其限制。本發明係有關於一種檢測樹狀聚合物純度之方法，其主要係利用流動注射高分子分析法(flow injection polymer analysis)與特定角度的靜態雷射光散射儀(static laser light scattering detector)檢測高純度且已知分子量之一組標準品之光散射強度；再利用該組標準品之光散射強度除以濃度(I/c)與分子量(M.W.)建立一尺度關係；以及檢測一待測之相同單體與外層修飾官能基構成的樹狀聚合物之光散射強度，並根據尺度關係判讀待測樹狀聚合物之純度。 The invention relates to a method of examining the purity of dendrimers. It comprises steps of measuring light scattering intensity of a set of standards which have high purity and known molecular weight by flow injection polymer analysis and static laser light scattering detector; establishing a scaling relation by a ratio of the light scattering intensity to concentration (I/c) and molecular weight (M.W.); measuring light scattering intensity of a dendrimer to be tested having the same unit and surface-modified functional group as the set of standards, and examining the purity of the dendrimer to be tested according to the scaling relation.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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