探測奈米粒子之方法及其裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

07A-920505

專利證號

7119331B2

專利獲證名稱

探測奈米粒子之方法及其裝置

專利所屬機關 (申請機關)

中央研究院

獲證日期

2006/10/10

技術說明

用來偵測奈米歹小的帶電燭光粒子，如具有發螢光特性的粒子或者是本身 可被螢光分子標記的粒子。奈米粒子的質譜分析可以達到質荷比大於 1000000以上。 The detector, composed of a laser, a photomultiplier, and a quadrupole ion trap, is designed specifically for probing nanoparticles that are intrinsically fluorescent or fluorescently labelled with dye molecules. Using this detector, we are able to obtain the mass spectra of fluorescein- labeled polystyrene spheres of 27 and 110 nm in diameter with a home-built quadrupole ion trap mass spectrometer operating in the mass-selective instability and frequency scan modes.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉處

連絡電話

02-2787-2508

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