晶片檢測平台

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102118422

專利證號

I 481862

專利獲證名稱

晶片檢測平台

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣海洋大學

獲證日期

2015/04/21

技術說明

熱電致冷晶片之檢測，如要求更精確之實驗數據，往往都要在真空環境下完成，因此，本計劃的目標就是設計並製造出在真空條件下，可驗證熱電致冷晶片(TEC)之檢測平台。該檢驗平台可提供業界(SGS-台灣檢驗科技公司)對該項科技技術產品之品管驗證作業。除此之外，熱電致冷晶片之尺寸各有不同，檢測平台往往會因為熱電致冷晶片尺寸之不同而得重新設計出不同之檢測平台；這種情況下，會造成許多檢測成本之浪費；為此本計畫將設計出通用或多樣化型之檢測平台，並配合田口法和類神經網路之技術；可修正熱電致冷晶片尺寸之誤差，預估並評量各種不同尺寸致冷晶片之品質。本計畫除提供業界建置驗證標準和實驗平台外，亦可供學界在熱電致冷晶片研究領域，進行進一步之研究和參考使用。 The test of TEC module is always fulfilled at the condition of vacuum for precision acquisition, and therefore the purpose of this project is proposed to set up the experimental station of the thermoelectric cooling module (TEC) at the situation of vacuum. Furthermore, this station can inspect the qualities of TEC modules at the standard conditions of SGS company. Except above problems, the sizes and kinds of TEC modules are diversified and complicated. Its needs a lot of money to inspect different sizes of TEC modules at different work stations. To solve this problem, this project is deeply considered to design a common use of inspection station with the numerical system of Taguchi technique combined with artificial neural network. In the experimental procedures, the test standards for the qualities of TEC modules are predicted and defined.

備註

本部(收文號1090017636)同意該校109年3月19日海研產技字第1090004956號函申請終止維護專利(海大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運總中心

連絡電話

(02)24622192#2299

網址