METHOD FOR MEASURING PROPAGATION LOSS IN A PLANE LIGHT GUIDE PLATE

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

13/603,033

專利證號

US 8,767,196 B2

專利獲證名稱

METHOD FOR MEASURING PROPAGATION LOSS IN A PLANE LIGHT GUIDE PLATE

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2014/07/01

技術說明

光學平板波導在現今光電產業為非常重要的光學應用技術，尤其是光電顯示領域，如美國專利US 2005/0084228 A1、US 7,325,960 B2、US 2009/0316072 A1、US2011/0069510 A1與US 2011/0228558 A1等，至今仍有專利不斷的被提出。在中華民國專利申請案號096107772與已獲得之7,927,553號美國專利中所揭露的“包含可運動適形導光板之光觸媒反應器”，更將光學平板波導運用於光觸媒化工反應器內，作為光化學反應器之驅動元件或光觸媒之載台與光觸媒反應驅動元件。相關的專利中，光學平板波導之耦光效率與光學平板波導內部光傳遞時之損耗為相關技術之重要技術門檻，如台灣專利M292691等，相關因應之光學檢測設備技術發展至為重要。 本發明“平板波導傳遞光損耗檢測法”，係運用於化學工程、環境工程與水產養殖應用等綠色科技之旋轉床式光觸媒反應器技術之延伸。運用平板波導傳遞光損耗檢測法可應用於進行平板波導傳遞光損耗之直接量測與即時監控，可促使平板波導應用於光觸媒或表面電漿增效之相關應用發展，如光化學反應強化等，具有重要之應用延伸與強化之直接或附加價值。 In view of foregoing problems of the prior art, the purpose of the present invention is to provide a method for measuring propagation loss in a plane light guide plate. Such method for measuring propagation loss in a plane light guide plate can be applicable to a photocatalytic reactor, and the photocatalytic reactor can includes an input light generator, an optical coupler, a plane light guide plate, an optical reflection device and an optical measurement device.

備註

本部(收文號：第1080062138號)同意該院108年9月16日國研授儀服院字第1080901656號函通報專利終止維護。

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址