可調式鏡片支撐結構

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109124476

專利證號

I 761887

專利獲證名稱

可調式鏡片支撐結構

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2022/04/21

技術說明

垂直干涉儀量測為一種經常被應用於精密光學拋光製造上之量測架構，其目的為檢測鏡片歷經拋光製程後之光學品質。 在拋光過程中，鏡片可能會在拋光機台以及輔助量測支撐結構上進行數次重複性的安裝與拆卸。因此，輔助量測支撐結構必須具備高穩定性以及高重現性，以利於垂直式干涉儀量測測得正確之波前誤差結果。 本案之大口徑鏡片可調式多連桿均勻支撐機構AWTS)主要功能為提供極為穩定且均勻支撐之特殊機構。此外，歸功於可調式機構設計，本發明可應用於各種不同減重構型大口徑鏡片之波前誤差量測，為精密天文望遠鏡鏡片以及高精度光學研磨拋光製造等領域之光學量測重大突破。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址