RESONANT WAVELENGTH MEASUREMENT APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD THEREOF

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

15/960,828

專利證號

US 10,775,237 B2

專利獲證名稱

RESONANT WAVELENGTH MEASUREMENT APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD THEREOF

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2020/09/15

技術說明

本發明的特點為結合「梯度導膜共振」與感光耦合元件(CCD)，透過資料擷取及數值運算發展一套共振波長系統，可以觀察頻譜上波谷或波峰的移動。此系統在某些應用上，可以用來取代較為昂貴且體積較大的光譜儀。 當GGP-GMR與CCD結合，不同GGP-GMR的位置所對應的共振波長，會使此位置下方所對應的CCD像素(成為共振像素)相較於其它的像素，接收到此共振波長最低的光強度。藉由GGP-GMR/CCD量測系統共振波長及共振像素位置的校正，及所提出的量測方法，可以將入射光的光譜信息藉由GGP-GMR轉換成CCD上的空間信息，因此入射波長的波谷或波峰便可由CCD上的像素清楚定義。 最後，我們以週期梯度導膜共振(gradient grating period guided-mode resonance, GGP-GMR)結合線性CCD為例，並以量測光學式生物感測器因生物樣本濃度的不同，而導致共振波長的偏移來驗證本發明。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

連絡電話

03-5738251

網址