適用於OQPSK及MSK系統之最佳取樣時機偵測器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095118224

專利證號

I 313121

專利獲證名稱

適用於OQPSK及MSK系統之最佳取樣時機偵測器

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2009/08/01

技術說明

在一個MSK或OQPSK的位元時間Tb中，取樣n次，將這些樣本每間隔n點分為一樣本群，當中會有 一具有最佳訊雜比之樣本群，本發明分別計算這些樣本群中，前後兩樣本的相位差之絕對值， 累計m個，具有最佳訊雜比的樣本群，累加之後的結果會是最大。利用此特性去找出最佳取樣 時機。 如圖一所示，I與Q為MSK或OQPSK在實部與虛部的訊號，每個Tb中取樣2次，就在圖中虛線的這 些時間取樣，計算樣本的相角，分別為0、 、 、 、0，在這當中0、 、0為一樣本群A， 、 為另一樣本群B，分計算相鄰相位差，得到 、 ，及0，取絕對值累加後，得到 及0，當中最大 者為樣本群A，由此可得到此樣本群為具有最佳訊雜比之樣本群。

備註

本部(收文號1030050277)同意該校103年7月9日1030002735號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

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