串聯式熔接光纖之熔接面檢測裝置及方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095100734

專利證號

I271562

專利獲證名稱

串聯式熔接光纖之熔接面檢測裝置及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2007/01/21

技術說明

一種串接光纖熔接面檢測系統

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址