印刷電路板輻射干擾的估測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102121952

專利證號

I 495882

專利獲證名稱

印刷電路板輻射干擾的估測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2015/08/11

技術說明

一種印刷電路板輻射干擾的估測方法，其包含「提供BCI探針及向量網路分析儀」、「進行一校正步驟」、「進行一量測步驟」及「進行一估測步驟」，其中於「進行一校正步驟」中藉由校正夾具量測BCI探針之轉移阻抗，並於「進行一量測步驟」中藉由BCI探針量測待測物之量測-輸入轉移函數及輸出-輸入轉移函數，最後，於「進行一估測步驟」中根據轉移阻抗、量測-輸入轉移函數及輸出-輸入轉移函數估測待測物之輻射干擾，本發明能以低成本且快速地準確估測待測物的輻射干擾。 A method for measuring PCB radiated emission includes “providing a BCI probe and a vector network analyzer”, “calibration step”, “measuring step”, and “estimation step”. Wherein, in the “calibration step” is utilize a calibration fixture to measure the transfer impedance of the BCI probe, and measuring the measure-input transfer function of a UUT by the BCI probe in “measuring step”, finally estimation the radiated emission of the UUT depends on the transfer impedance, the measure-input transfer function and the output-input transfer function in “estimation step”. This invention can rapidly estimate the radiated emission of the UUT in low cost.

備註

本部(收文號1070027911)同意該校107年4月26日中產營字第1071400414號函申請申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

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