物料報廢架構及物料報廢準則產生方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095118613

專利證號

I 323427

專利獲證名稱

物料報廢架構及物料報廢準則產生方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立交通大學

獲證日期

2010/04/11

技術說明

本研究建構一數學模式，考量範圍包含整個TFT-LCD廠生產流程中Array製程、CF製程及Cell製程的特性，以產品的獲利 （Profit）最大化為目標，利用基因演算法，針對不同的產品，訂定個別產品在Array製程及CF製程階段中，各檢測站 的最佳報廢準則決策。本方法採用訂定檢測站的最佳報廢準則，可不必藉由提升製程良率，就可以達到成本降低，利潤 提高的目的。

備註

本部(收文號1060016225)同意該校106年3月7日交大研產學字第1061002219號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智慧財產權中心

連絡電話

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